Geliştirilmiş hassasiyet ve yeni görüntüleme teknolojisinin birleşimi ile yalnızca tek bir cihazda yüksek hızlı analiz için µXRF!
Hazırlık gerektirmeyen ve kimyasal analiz olmadan ölçüm alabilme imkanı
Ölçüm noktalarına, mikroskobik aralıkta bile yüksek hassasiyetli optik gözlem yoluyla hızlı bir şekilde erişilebilirlik
Çeşitli görüntü analiz yazılım seçenekleri
-
Enstrüman X-ışını floresan analitik mikroskop
-
Numune Tipi Katı, Sıvı, Parçacık
-
Algılanabilir elemanlar F – Am (SL modeli ile Na – Am)
-
Hazne boyutu 450 (G) x 500 (D) x 80 (Y)
-
Maksimum örnek boyutu 300 (W) x 250 (D) x 80 (H)
-
Maksimum numune miktarı 1 kg (SL modeli ile 10kg a kadar yükseltme)
-
Objektif lensli iki yüksek çözünürlüklü kamera
-
X-ışını Floresans dedektörü Silikon Drift Dedektörü (SDD)
-
Transmitans detektörü NaI (Tl)
-
Güç 50 W
-
Gerilim max 50 kV
-
Akım max 1 mA