HORIBA uzun yıllardır XGT-WR serisi EDXRF analizörlerini satmakta ve halojensiz uygulamalar için Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, RoHS, ELV ve Cl gibi tehlikeli elementler içeren numunelerin tarama ölçümlerini sağlamaktadır.
Müşteri gereksinimleri ve bilgisi konusundaki uzun deneyimine dayanarak yeni MESA EDXRF analiz cihazını geliştirdi. Kullanıcı dostu çalışma ve iyi performans sağlar.
İnce kablolardan ve elektronik parçalardan dökme numunelere kadar her numune için uygun üç analiz çapı içerir.
-
Energy Dispersive X-ray floresans spektrometrisi
-
Hedef uygulama RoHS, ELV, Halojensiz
-
Ölçülebilen elementler 13Al - 92U
-
Numune tipi Katı, Sıvı, Toz
-
X ışını jeneratörü
-
X-ray tüpü Max 50kV, 0.2mA
-
X-ray ışınlama boyutu 1.2mm, 3mm, 7mm (Otomatik geçiş)
-
SDD Tipi (Silikon Kayma Dedektörü)
-
Sinyal işlemcisi Dijital darbe işlemcisi
-
CCD kamera